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Telops 紅外熱像儀無需黑體標定技術
來源:
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作者:佚名
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發(fā)布時間: 2023-02-07
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圖像均勻性和輻射測量定標的精度體現了先進的紅外熱像儀的主要參數。在過去幾年中幾種非均勻性校正和輻射測量標定技術已經被開發(fā)出來。每種方法都有自己的優(yōu)點和缺陷。但是所有這些方法的共同點兩個主要缺點，使得熱像儀不能很好的被使用。更詳細地說，這些校準標定技術的主要缺點是限制使用預設曝光的積分時間和并且他們的失敗在于未能確保環(huán)境溫度變化時作出適當的補償。這使他們在真正的外場環(huán)境下的使用幾乎是不能實現的。本應用筆記介紹由 Telops 開發(fā)的一種新的圖像校正和標定技術的優(yōu)點以及重要的實際操作中帶來的優(yōu)勢。
Telops 創(chuàng)新的校準方法被設計為緊密地配合熱像儀的物理性能以便校修正在非常相近的參考范圍中出現要移除的影響。而不是依賴于觀察數字電平的變化與黑體溫度對應的函數，或者波段范圍內的輻射變化函數，它是用通量來表征的[DL/μs 的單位]，代表了熱像儀取決于曝光時間相關的讀數靈敏度。下面是方法及其關鍵原理的簡短說明
理想情況下，積累的電子的數量線性地隨曝光時間的增加而增加?？梢杂^察到所檢測到的電子通量（斜率）隨著黑體溫度的增加而增加，但截距卻總是同樣，因為它更多地依賴于讀出電路的偏置的水平。對應于各個不同的像素的曲線之間的極強的相似性第一次被注意到，這意味著它們是被仿射變換所代表的每一個像素的基于一個典型的額定曲線和以及增益和偏置的參數。說明了環(huán)境溫度增加的作用，這只是簡單的增加了一個給定的通量，獨立于場景溫度。這個偏置直接取決于熱像儀的自身輻射。
